Олехнович, Николай Михайлович
| Николай Михайлович Олехнович | |
|---|---|
| бел. Мікалай Міхайлавіч Аляхновіч | |
| Дата рождения | 2 мая 1935 (89 лет) |
| Место рождения |
|
| Страна | |
| Род деятельности | физик |
| Научная сфера | Физика твёрдого тела |
| Место работы |
|
| Альма-матер | |
| Учёная степень | д.ф.-м.н. |
| Учёное звание | профессор академик НАНБ |
| Награды и премии |  |
Николай Михайлович Олехнович (бел. Мікалай Міхайлавіч Аляхновіч; род. 2 мая 1935, Вороничи[вд], Новогрудское воеводство) — советский и белорусский физик, академик Национальной академии наук Беларуси (1996; член-корреспондент с 1989), доктор физико-математических наук (1988), профессор (1991). Заслуженный деятель науки Республики Беларусь (1999).
Биография
Олехнович родился в деревне Вороничи (ныне — Слонимский район, Гродненская область) в крестьянской семье. После окончания в 1957 году физико-математического факультета БГУ он работал в Физико-техническом институте АН БССР, а с 1959 года — в Отделе физики твёрдого тела и полупроводников АН БССР, который вскоре был преобразован в Институт физики твердого тела и полупроводников АН БССР. В 1968—1989 гг. он возглавлял лабораторию, а с 1993 по 2004 гг. был директором этого института. Одновременно в 1997—2002 гг. он выполнял обязанности академика-секретаря Отделения физики, математики и информатики НАН Беларуси. С 2004 года Олехнович является главным научным сотрудником Объединённого института физики твердого тела и полупроводников НАН Беларуси, читает лекции в БГУ.
Научная деятельность
Научные работы Олехновича посвящены вопросам физики твёрдого тела, кристаллофизике. В защищённой в 1963 кандидатской диссертации он изучил пространственное распределение электронной плотности в кристаллах полупроводников, которое можно использовать для определения их физических характеристик. С 1967 Олехнович изучал дефекты в реальных кристаллах, разработал рентгеновский дифракционно-поляризационный метод анализа кристаллов, исследовал явления двулучепреломления и деполяризации рентгеновского излучения на дислокациях, эффект толщинных осцилляций интенсивности рассеяния рентгеновских лучей, что позволяет определять типы и количество дефектов. Он развил подход для описания фазовых превращений кристаллов типа перовскита, внес значительный вклад в создание новых материалов, которые могут быть использованы в твердотельной электронике.
Публикации
Олехнович является автором 10 изобретений и более 300 научных публикаций, среди которых:
- N.M. Olekhnovich, A.I. Olekhnovich. Dynamic effects of diffuse X-ray scattering near bragg reflections (недоступная ссылка) // Phys. Stat. Sol. (a). — 1982. — V. 67, № 2.
- N.M. Olekhnovich, A.L. Karpei. Dynamical effects of X-ray scattering in Laue geometry for Si crystals with structure defects (недоступная ссылка) // Phys. Stat. Sol. (a). — 1984. — V. 82, № 2.
- Н. М. Олехнович. Интегральные характеристики дифракции рентгеновских лучей в монокристаллах с хаотическим распределением дислокаций // Металлофизика. — 1986. — Т. 8, № 1.
- N.M. Olekhnovich, A.V. Pushkarev. Birefringence and depolarition effects of X-ray scattering in Laue geometry for highly distorted crystals (недоступная ссылка) // Phys. Stat. Sol. (a). — 1990. — V. 119, № 1.
- Н. М. Олехнович. Длины ненапряженных связей и соответствующие им радиусы катионов в кристаллах со структурой типа перовскита // Кристаллография. — 2004. — Т. 49, № 5.
- Н. М. Олехнович. Напряженность межатомных связей и многоямный потенциал в кристаллах со структурой типа перовскита // Кристаллография. — 2005. — Т. 50, № 3.
Литература
- Мікалай Міхайлавіч Аляхновіч (Да 75-годдзя з дня нараджэння) Архивная копия от 18 марта 2012 на Wayback Machine. // Изв. НАН Беларуси: Сер. физ.-матем. наук, 2010, № 2.
Ссылки
- Николай Михайлович Олехнович: Справка на сайте НАН Беларуси Архивная копия от 22 декабря 2010 на Wayback Machine
- Олехнович Николай Михайлович в базе данных «История белорусской науки в лицах» Центральной научной библиотеки им. Якуба Коласа НАН Беларуси
