Рентгенострукту́рный ана́лиз — один из дифракционных методов исследования структуры вещества. В основе данного метода лежит явление дифракции рентгеновских лучей на трёхмерной кристаллической решётке.
Дифра́кция во́лн — явление огибания волнами препятствий, в широком смысле любое отклонение от законов геометрической оптики при распространении волн. Она представляет собой универсальное волновое явление и характеризуется одними и теми же законами при наблюдении волновых полей разной природы.
Рентге́новское излуче́ние — электромагнитные волны, энергия фотонов которых лежит на шкале электромагнитных волн между ультрафиолетовым излучением и гамма-излучением (от ~10 эВ до нескольких МэВ), что соответствует длинам волн от ~103 до ~10−2 Å (от ~102 до ~10−3 нм).
Кристаллохи́мия — наука о кристаллических структурах и их связи с природой вещества. Кристаллохимия изучает пространственное расположение и химическую связь атомов в кристаллах, а также зависимость физических и химических свойств кристаллических веществ от их строения. Будучи разделом химии, кристаллохимия тесно связана с кристаллографией. Источником экспериментальных данных о кристаллических структурах являются главным образом рентгеноструктурный анализ, структурная электронография и нейтронография, с помощью которых определяют абсолютные величины межатомных расстояний и углы между линиями химических связей. Кристаллохимия располагает обширным материалом о кристаллических структурах десятков тысяч химических веществ, включая такие сложные объекты, как белки и вирусы. По состоянию на 1 января 2008 года установлена кристаллическая структура примерно 425 тысяч соединений, из них около 200 тысяч (42 %) составляют органические соединения.
Вильге́льм Ко́нрад Рёнтген — немецкий физик, работавший в Вюрцбургском университете. С 1875 года служил профессором в Хоэнхайме, с 1876 года — профессором физики в Страсбурге, с 1879 года — в Гиссене, с 1885 года — в Вюрцбурге, с 1899 года — в Мюнхене. Первый в истории лауреат Нобелевской премии по физике (1901 год) за открытие в 1895 году излучения, впоследствии названного в его честь.
Нейтроногра́фия — дифракционный метод изучения атомной и/или магнитной структуры кристаллов, аморфных материалов и жидкостей с помощью рассеивания нейтронов.
Сэр Уильям Лоренс Брэгг — австралийский физик, лауреат Нобелевской премии по физике за 1915 год. Самый молодой нобелевский лауреат по физике за всю историю премии. Занимал пост директора Национальной физической лаборатории Великобритании в 1937—1938 годах, затем аналогичный пост в Кавендишской лаборатории в Кембридже в то время, когда там, в феврале 1953 года, Дж. Уотсоном, Ф. Криком и Р. Франклин была открыта структура ДНК.
Сэр Уильям Генри Брэгг — английский физик, лауреат Нобелевской премии по физике за 1915 год.
Макс фон Ла́уэ — немецкий физик, лауреат Нобелевской премии по физике в 1914 году «за открытие дифракции рентгеновских лучей на кристаллах».
Микроскопия (МКС) — изучение объектов с использованием микроскопа. Подразделяется на несколько видов: оптическая микроскопия, электронная микроскопия, многофотонная микроскопия, рентгеновская микроскопия, рентгеновская лазерная микроскопия и предназначается для наблюдения и регистрации увеличенных изображений образца.
Рентге́новская о́птика — отрасль прикладной оптики, изучающая процессы распространения рентгеновских лучей в средах, а также разрабатывающая элементы для рентгеновских приборов. Рентгеновская оптика, в отличие от обычной, рассматривает отражение и преломление электромагнитных волн в диапазоне длин волн рентгеновского 10−4 до 100 Å и гамма-излучений < 10−4 Å.
Николай Михайлович Олехнович — советский и белорусский физик, академик Национальной академии наук Беларуси, доктор физико-математических наук (1988), профессор (1991). Заслуженный деятель науки Республики Беларусь (1999).
Метод дисперсионной рентгеновской спектроскопии по длине волны (ДРСДВ) — аналитическая методика элементного анализа твёрдого вещества, базирующаяся на анализе максимумов по их расположению и интенсивности её рентгеновского спектра, вариант рентгеноспектрального анализа. С помощью ДРСДВ-методики можно количественно и качественно определить элементы в исследуемом материале начиная с атомного номера 4 — (Бериллий). Нижняя граница определения наличия элемента при этом составляет 0.01 весового процента, что в абсолютных числах составляет 10−14 до 10−15 грамма.
Малоугловое рентгеновское рассеяние сокр., МРР (англ. small angle X-ray scattering сокр., SAXS) — упругое рассеяние рентгеновского излучения на неоднородностях вещества, размеры которых существенно превышают длину волны излучения, которая составляет λ = 0,1–1 нм; направления рассеянных лучей при этом лишь незначительно отклоняются от направления падающего луча.
Вальтер Фридрих — немецкий физик, биофизик, общественный деятель.
Формула Шерера (Шеррера), в кристаллографии и рентгеновской дифракции, формула связывающая размеры малых частиц (кристаллитов) с шириной дифракционных пиков. Названа в честь Пауля Шеррера. Формула используется для определения размеров кристаллов в виде порошков.
Олег Игоревич Сумбаев — советский и российский физик-экспериментатор, член-корреспондент АН СССР (1979), член-корреспондент РАН (1991).
Валерий Васильевич Фёдоров — советский и российский физик, специалист в области динамической дифракции нейтронов, электронов и гамма-квантов в монокристаллах. Заведующий лабораторией рентгеновской и гамма-спектроскопии ПИЯФ НИЦ «Курчатовский институт». Заведующий кафедрой нейтронной физики Академического физико-технологического университета РАН. Профессор кафедры экспериментальной ядерной физики Санкт-Петербургского государственного политехнического университета. Профессор кафедры ядерно-физических методов исследования СПбГУ. Профессор кафедры нейтронной и синхротронной физики физического факультета Санкт-Петербургского государственного университета. Член Научного совета Роснауки по использованию синхротронного излучения и нейтронов в нанонауках и материаловедении. Член Ученого совета международного Института Лауэ-Ланжевена
Леонид Иванович Даце́нко — советский и украинский учёный-физик, специалист в области физики полупроводников. Доктор физико-математических наук (1978), профессор (1984). Дважды лауреат Государственной премии УССР (1983) и Украины (1994) в области науки и техники. Заслуженный деятель науки и техники Украины (2000).
