Оптический или световой микроско́п — оптический прибор для получения увеличенных изображений объектов, невидимых невооружённым глазом.
Сканирующий туннельный микроскоп — вариант сканирующего зондового микроскопа, предназначенный для измерения рельефа проводящих поверхностей с высоким пространственным разрешением.
Нанотехноло́гия — область фундаментальной и прикладной науки и техники, включающая теоретическое обоснование, практические методы исследования, анализа и синтеза, а также методы производства и применения продуктов с заданной атомной структурой путём контролируемого манипулирования отдельными атомами и молекулами.
Растровый электронный микроскоп (РЭМ) или сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) — прибор класса электронный микроскоп, предназначенный для получения изображения поверхности объекта с высоким пространственным разрешением, также информации о составе, строении и некоторых других свойствах приповерхностных слоёв. Основан на принципе взаимодействия электронного пучка с исследуемым объектом.
Герд Карл Би́нниг — немецкий физик, в 1986 году совместно с Генрихом Рорером получил Нобелевскую премию по физике за изобретение сканирующего туннельного микроскопа. Разработки Биннига расширили возможности нанотехнологий, позволив не только визуализировать отдельные атомы, но и манипулировать ими.
Электро́нный микроско́п (ЭМ) — прибор, позволяющий получать изображение объектов с максимальным увеличением до 106 раз, благодаря использованию, в отличие от оптического микроскопа, вместо светового потока, пучка электронов с энергиями 200 эВ — 400 кэВ и более (например, просвечивающие электронные микроскопы высокого разрешения с ускоряющим напряжением 1 МВ).
Ультрамикроскоп — оптический прибор для обнаружения частиц столь малых размеров, что их нельзя наблюдать в обычные микроскопы. В ультрамикроскоп наблюдаются не сами частицы, а большие по размерам пятна дифракции света на них. Размеры и форму частиц в ультрамикроскоп установить нельзя, однако можно определить их концентрацию и вычислить средний размер. Применяется при исследовании дисперсных систем, для контроля чистоты воздуха и воды и т. д. Примером использования ультрамикроскопа для изучения наночастиц может служить метод анализа траекторий наночастиц.
ООС — многозначное сокращение:
- ООС — особенность-ориентированное сканирование, способ измерения рельефа поверхности в сканирующей зондовой микроскопии.
- ООС — охрана окружающей среды.
- ООС — отрицательная обратная связь в электронике.
- ООС — Операция объединённых сил.
Особенность-ориентированное сканирование — способ прецизионного измерения рельефа поверхности на сканирующем зондовом микроскопе, при котором особенности (объекты) поверхности служат в качестве опорных точек для привязки зонда микроскопа. В ходе ООС, переходя от одной особенности поверхности к расположенной по соседству другой особенности поверхности, производится измерение относительного расстояния между особенностями, а также измерения рельефов окрестностей этих особенностей. Описанный подход позволяет просканировать заданную область на поверхности по частям, после чего восстановить целое изображение из полученных фрагментов. Кроме указанного допустимо использование другого названия метода – объектно-ориентированное сканирование.
Особенность-ориентированное позиционирование — способ прецизионного перемещения зонда сканирующего микроскопа по исследуемой поверхности, при котором особенности (объекты) поверхности используются в качестве опорных точек для привязки зонда микроскопа. ООП представляет собой упрощённую разновидность особенность-ориентированного сканирования (ООС), когда вместо получения топографического изображения некоторой поверхности выполняется только перемещение зонда по особенностям этой поверхности. Перемещение осуществляется из начальной точки A поверхности в конечную точку B вдоль некоторого маршрута, проходящего через промежуточные особенности поверхности. Кроме указанного допустимо использование другого названия метода — объектно-ориентированное позиционирование.
Ге́нрих Ро́рер — швейцарский физик, лауреат Нобелевской премии по физике в 1986 г.
Атомно-силовой микроскоп — сканирующий зондовый микроскоп высокого разрешения. Нужен для определения рельефа поверхности с разрешением от десятков ангстрем вплоть до атомарного.
Микроскопия (МКС) — изучение объектов с использованием микроскопа. Подразделяется на несколько видов: оптическая микроскопия, электронная микроскопия, многофотонная микроскопия, рентгеновская микроскопия, рентгеновская лазерная микроскопия и предназначается для наблюдения и регистрации увеличенных изображений образца.
Ближнепольная оптическая микроскопия (БОМ) — оптическая микроскопия, обеспечивающая разрешение лучшее, чем у обычного оптического микроскопа. Повышение разрешения БОМа достигается детектированием рассеяния света от изучаемого объекта на расстояниях меньших, чем длина волны света. В случае, если зонд (детектор) микроскопа ближнего поля снабжен устройством пространственного сканирования, то такой прибор называют сканирующим оптическим микроскопом ближнего поля. Такой микроскоп позволяет получать растровые изображения поверхностей и объектов с разрешением ниже дифракционного предела.
Сканирующие зондовые микроскопы — класс микроскопов для получения изображения поверхности и её локальных характеристик. Процесс построения изображения основан на сканировании поверхности зондом. В общем случае позволяет получить трёхмерное изображение поверхности (топографию) с высоким разрешением. Сканирующий зондовый микроскоп в современном виде изобретен Гердом Карлом Биннигом и Генрихом Рорером в 1981 году. За это изобретение были удостоены Нобелевской премии по физике в 1986 году, которая была разделена между ними и изобретателем просвечивающего электронного микроскопа Э. Руска. Отличительной особенностью СЗМ является наличие:
- зонда,
- системы перемещения зонда относительно образца по 2-м (X-Y) или 3-м (X-Y-Z) координатам,
- регистрирующей системы.
НПП Центр перспективных технологий — российское предприятие, работающее в области нанотехнологий. Основная уставная деятельность — разработка и создание приборов и методов сканирующей зондовой микроскопии.
СТМ:
- Сканирующий туннельный микроскоп.
- Собственная торговая марка.
- «Сибтяжмаш», СТМ — Сибирский завод тяжёлого машиностроения.
Ска́нер — устройство ввода, которое, анализируя какой-либо объект, создаёт его цифровое изображение. Процесс получения этой копии называется сканированием.
- Сканер изображений и его разновидности:
- Ручной сканер — портативная разновидность сканера.
- Сканер штрихкода — устройство для считывания информации, представленной в виде штрихкода.
- Сканер киноплёнки — устройство для преобразования изображения на киноплёнке в цифровые файлы.
- 3D-сканер — устройство для считывания формы объёмного объекта.
- Биометрические сканеры используются для целей идентификации личности, например:
- Сканер сетчатки глаза считывает рисунок сетчатки глаза;
- Сканер отпечатка пальца считывает папиллярный рисунок подушечки пальца руки.
- Сканер портов — программный инструмент в области сетевых технологий.
- Сканеры уязвимостей — программные или аппаратные средства для диагностики сетевых компьютеров на предмет возможных проблем в системе безопасности.
- Сканер в программировании — часть компилятора, осуществляющая лексический анализ.
- Сканирующий радиоприёмник — радиоприёмник, осуществляющий поиск радиопередачи на заданных частотах или в заданном диапазоне.
- Сканер (телепередача) — познавательная телепередача, состоящая из нескольких кратких сюжетов.
NT-MDT — группа компаний, специализирующаяся в разработке и производстве научного оборудования для нанотехнологических исследований, в частности сканирующих зондовых микроскопов.
